Får 25. mill. til overflateanalyse

Forskere ved SINTEF, NTNU og UiO har fått 25 millioner som skal gå til investeringer i utstyr for overflateanalyse. Dette åpner for store og viktige investeringer innenfor avansert materialkarakterisering.

– Det blir et kjempeløft for forskningen, og vil gi oss muligheter til å realisere nye spennende prosjekter både for norsk industri og i EU-sammenheng, sier Bjørn Steinar Tanem på SINTEF Materialer og kjemi (bildet).

Midlene er tildelt innenfor Forskningsrådets program ”Storskala infrastruktur”, og skal gå til anskaffelse av infrastruktur som kan bedre forskningsfeltet. Overflateanalyse er viktig for de fleste forskningsområder som omhandler materialer. Om man forstår strukturen på materialet, kan man også forstå hvorfor materialet har den yteevnen den har, og hva som kan gjøres for å bedre denne. Overflateanalyse inngår i både grunnforskning og industriell forskning. Forskerne påpeker også at det er en økende betydning av overflateanalyse innenfor nanoteknologi. Når materialdimensjonene går dramatisk ned i størrelse, blir forholdet mellom overflateareal og volum langt større og egenskapene blir mer dominert av overflatene. Dermed blir også overflateanalysene viktig, heter det i en pressemelding fra Sintef.